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Il Laboratorio
Analisi Multimodale (LAM) è equipaggiato con
strumenti di ultima generazione quali SEM, DRX, micro-Raman e
micro-FTIR.
Laboratorio Analisi Multimodale
(LAM) in attività
Diffrattometria a Raggi-X La
diffrattometria a raggi X è il metodo ideale per ottenere informazioni
sulle strutture dei materiali cristallini su una scala atomica e, come
nel nostro caso, nei minerali e nelle rocce. In particolare, la
diffrazione da polveri permette di effettuare un’analisi qualitativa e
quantitativa della composizione mineralogica del materiale indagato.
Dal diffrattogramma ottenuto è possibile acquisire le seguenti informazioni:
 Diffrattometro Rigaku SmartLab
SE.
Il Nostro laboratorio è equipaggiato
con un Rigaku SmartLab SE di
recente fabbricazione e il software SmarLab Studio II per l'analisi
degli spettri ottenuti. Quest'ultimo dispone della licenza per
l'utilizzo del database PDF-4, utile per analisi qualitative e
quantitative, rilasciato da ICDD.
Spettroscopia Raman La
spettroscopia Raman è una tecninca di analisi che sfrutta la diffusione
di una radiazione elettromagnetica monocromatica da parte del campione
analizzato. Questo tipo di analisi è largamente utilizzata nello studio
di materiali allo stato solido (es. rocce, minerali, polimeri) e
liquido, è una tecnica non distruttiva, veloce e facilmente
realizzabile senza particolari preparazioni del campione.
Durante l'analisi il campione viene colpito da una radiazione elettromagnetica proveniente da una sorgente laser, che interagendo con gli elettroni delle molecole induce su di esse un dipolo elettrico responsabile del processo di diffusione della radiazione incidente. Tale fenomento viene rappresentato attraverso uno spettro che fornisce informazioni sulla struttura dei livelli energetici vibrazionali molecolari. Dal confronto dello spettro sperimentale con un database è possibile individuare univocamente la natura del materiale analizzato.  Microscopio confocale Renishaw.
Il nostro laboratorio è equipaggiato
con un Microscopio Raman confocale inVia™
prodotto da Renishaw, con ottiche con ingrandimento 5x, 20x e
50x che permettono
una efficace analisi di campioni di origine geologica oppure
artificiale. Il microscopio, inoltre, può essere utilizzato con luce
riflessa e trasmessa, utile per l'osservazione e l'analisi puntuale di
sezioni sottili.
Microscopia Elettronica a Scansione e spettroscopia EDX (SEM-EDX) Il
Microscopio elettronico è un tipo di microscopio che utilizza un fascio
di elettroni come sorgente di radiazioni, a differenza del microscopio
ottico che utilizza la luce. Il fascio di elettroni avendo una
lunghezza molto piccola permette al microscopio elettronico di
raggiungere una risoluzione molto elevata.
Nel microscopio elettronico a scansione il fascio di elettroni colpisce il campione da cui vengono emesse numerose particelle fra cui elettroni secondari; questi ultimi vengono rilevati e convertiti in impulso elettrico. Solitamente il SEM è equipaggiato con una sonda per effettuare analisi di spettroscopia EDX (Energy Dispersive X-ray). L'analisi EDX è una metodologia non distruttiva che permette di analizzare campioni solidi conduttivi ed ottenere un'analisi elementare, che permette di rilevare la presenza di elementi anche in piccole tracce.  SEM FEI Company Inspect S in
dotazione.
Spettroscopia Infrarossi a Trasformata di Fourier (FTIR) La
spettroscopia infrarossa o spettroscopia IR è una tecnica
spettroscopica di assorbimento normalmente utilizzata per la
caratterizzazione dei materiali. Quando un fotone infrarosso viene assorbito
da una molecola, questa passa dal suo stato vibrazionale fondamentale
ad uno stato vibrazionale
eccitato. In un tipico spettro infrarosso
in ascissa viene
indicata una scala di frequenze espresse in numero d'onda e in ordinata
la percentuale di trasmittanza.
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